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最終更新日:2026年10月16日

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精密計測工学II

「完璧なレンズを作れば,どんなに小さなものでも拡大して観察できるのか?」「極めて弱い光を測るとき,何が限界を決め,何を工夫すれば信号を取り出せるのか?」本講義は,このような素朴だが本質的な問いに対して,物理と工学の言葉で答えられるようになることを目的とする.分解能・感度・帯域・SNRといった計測の性能指標と限界要因を共通言語として学び,ロックイン検出に代表される微弱信号計測の原理や,位置・形状・表面を定義して測るための考え方を身に付ける.さらに,光(可視・近赤外)に基づくイメージング・分光・干渉計測から,原子スケールへ迫るプローブ顕微鏡,電子顕微鏡,X線分析まで,多様な計測モダリティを横断的に扱う.これにより,得たい情報に応じて最適な計測手法を選定し実施するための基礎的素養を養う.
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時間割/共通科目コード
コース名
教員
学期
時限
FEN-PE3602L1
FEN-PE3602L1
精密計測工学II
中川 桂一
A1 A2
水曜4限
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講義使用言語
日本語
単位
2
実務経験のある教員による授業科目
NO
他学部履修
可
開講所属
工学部
授業計画
下記の項目を学ぶ(順番はこの限りではない) 計測の指標と限界:回折限界・FTL,SNR・ショットノイズ,分解能トレードオフ 計測における信号処理 光学顕微鏡:位相差顕微鏡,蛍光顕微鏡,共焦点顕微鏡 分光分析:原子や分子の同定 干渉計測,白色干渉計 エリプソメトリ 高速度イメージング プローブ顕微鏡:AFM,STM,SNOM,TERS 電子顕微鏡:SEM,TEM,EDS,EELS X線分析:CT,XRD,XPS 空間位置計測:レーザトラッカ、レーザトレーサ 表面位置計測:表面とは? 形状標準
授業の方法
授業
成績評価方法
出席,レポート
履修上の注意
特になし