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最終更新日:2025年4月21日

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固体電子デバイス特論

The performance and integration density of field-effect transistors (MOSFETs) have been improved by reducing their size. However, in recent years, it has become essential to improve performance by making various innovations to the materials, such as introducing strain into semiconductors to increase mobility through a technique called strain engineering, and increasing the gate capacitance by introducing high-dielectric-constant gate insulating films. The aim of this lecture is to understand the material innovations for improving transistor performance and the expansion of the field of transistor applications through the introduction of new materials.
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時間割/共通科目コード
コース名
教員
学期
時限
3765-160
GEN-MA6e36L2
固体電子デバイス特論
内田 建
S1
火曜2限
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講義使用言語
英語
単位
1
実務経験のある教員による授業科目
NO
他学部履修
開講所属
工学系研究科
授業計画
No.1: Introduction: Basics of MOS Transistors No.2: MOS Capacitor (1) Capacitance-Voltage Characteristics No.3: MOS Capacitor (2) Quantum Mechanical Effects and Interface States No.4: MOS Transistor Characteristics (1) Charge Sheet Model No.5: MOS Transistor Characteristics (2) Subthreshold Region No.6: Scaling Law
成績評価方法
Reports
教科書
Y. Taur & T. H. Ning, “Fundamentals of Modern VLSI Devices”, 3rd Ed. , Cambridge University Press, 2021.
履修上の注意
視野を広げる
その他
事前履修:Quantum Mechanics,Semiconductor Physics,Solid-State Physics,Statistical Mechanics