結晶欠陥解析学 - 工学系研究科 - 東京大学授業カタログ

結晶欠陥解析学

結晶性材料における格子欠陥の力学的応答を深く理解することを主眼として、結晶学、転位論、格子欠陥学を学ぶとともに、X線回折や電子顕微鏡による微細構造解析手法の原理および活用法を学ぶ。また、研究・開発現場での諸問題に通じる演習に取り組み、実践的な構造解析手順の習得を図る。

This course focuses on a deep understanding of mechanical responses of lattice defects in crystals. The topics in the first half of the course are crystallography, dislocation theory, and lattice defect behavior. In the second half, principals and application of microstructure analysis method by using X-ray diffraction and electron microscopy are explained. Through working on several quizzes according to problems in research and development sites, attendee will acquire practical structural analysis procedures.

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授業計画

I. 結晶微細組織／Crystal microstructures 　1. 結晶学／Crystallography 　　・結晶構造／Crystal structure 　　・ミラー指数／Miller index 　2. 転位論／Dislocation theory　　　・転位の構造／Structures of dislocations 　　・転位間相互作用／Dislocation interactions 　　・転位の運動／Dynamic behavior of dislocations 　3.格子欠陥学／Lattice defects　　　・点欠陥・面欠陥／Point defects・Planar defects 　　・結晶粒界／Grain boundaries 　　・変形双晶／Deformation twinning II. 微細構造解析／Microstructure analysis 　1.回折現象／Diffraction phenomena　　　・X線・電子線／X-ray・Electron beam 　　・散乱・回折現象／Scattering・Diffraction 　　・回折パターン／Diffraction patterns 　2.X線回折法／X-ray diffraction　　　・単結晶X線回折法／Single-crystal X-ray diffraction 　　・粉末X線回折法／Power X-ray diffraction 　3.電子顕微鏡法／Electron microscopy　　　・走査型電子顕微鏡法(SEM)／Scanning electron microscopy 　　・透過型電子顕微鏡法(TEM)／Transmission electron microcopy 　　・先端電子顕微鏡法／Advance electron microscopy